膜厚测试仪 X荧光镀层测厚仪 美国博曼原装进口

品牌:BOWMAN型号:BA-100规格:B系列

  • 产品价格:1.00元/台
  • 所 在 地:广东-深圳市
  • 有效期至:2025-04-03
  • 发布日期:2020-04-17
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产品详情

 美国博曼(BOWMAN)BA-100 X射线荧光镀层测厚仪
     博曼Ba-100镀层测厚仪,采用X射线荧光分析原理,快递无损测量。可测量金属元素13号铝到92铀元素,广泛应用于线路板行业测量:金镍厚度、金钯镍、沉银、喷锡等厚度;以及适用于五式连接器、卫浴等行业,测量镀金、铬、镍等厚度。 博曼BA-100##采用黄铜材质光管,使用X射线管比同行寿命高2倍寿命,且采用了Sin-PIN与SDD半导体探测器,高精度探测到元素的信号。
     
  美国博曼(Bowman)BA-100 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪-为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。 


美国博曼(Bowman)分析仪器即使在客户遇到最严格的测试要求时也能够实现快速、方便、高效的XRF分析效果。 

智能的紧凑式设计使得分析各种各样的应用变得更方便,在合理的价格范围内显著提升您的镀层产品质量控制。 

性能与可操作性的##化 
紧凑式设计,改善效率和精度 
高分辨半导体固态探测器(Si-Pin),提高稳定性和灵敏度 
更短的预热时间,开机5分钟内即可测量产品,更长寿命的光管 
4种规格:0、0.1、0.5、1mm的一次滤波器

可配:

  单准直器(型号:BA-100-B-SFF)

  多准直器(型号:BA-100-B-MFF)

  可变焦多准直器(型号:BA-100-B-MVF) 
可变焦距6.3--12.5-25.5-38mm,以适应复杂样品的测量需求 
模块化设计,方便维修、维护 

简单的设计、强大的分析能力 
快速、无损的分析 
可测Ti22-U92元素

同时可最多分析5层镀层(4层镀层+基材层)

成份分析最多可达25种元素 
基于基本参数法的镀层和成份分析方法 
仅需一根USB线与电脑连接 
快捷的面板控制按钮 
占用空间小、轻量化设计 

直观的用户界面 
###分析灵活性,减少用户出错机会 
基于Net framework框架的Xralizer软件 
直观的图标引导用户界面 
强大的定性、无标样分析功能 
功能强大的标准片库 
用于快速分析的可定制快捷键 
灵活的数据显示与导出 
强大的报告编辑生成器

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