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“重大科学仪器设备开发专项”2018年度申报指南发布

发布日期:2018-02-10 来源: 仪器信息网 查看次数: 145 作者:本站

核心提示:“重大科学仪器设备开发”重点专项2018年度项目申报指南科学仪器设备是科学研究和技术创新的基石,是经济社会发展和国防安全的重要保障。为切实提升我国科学仪器设备的自主创新能力和装备水平,促进产业升级发展,支撑创新驱动发展战略的实施,经国家科技计划战略咨询与综合评审特邀委员会、国家科技计划管理部际联席会审议,“重大科学仪器设备开发”重点专项已于2016年

  “重大科学仪器设备开发”重点专项2018年度项目申报指南

  科学仪器设备是科学研究和技术创新的基石,是经济社会发展和国防安全的重要保障。为切实提升我国科学仪器设备的自主创新能力和装备水平,促进产业升级发展,支撑创新驱动发展战略的实施,经国家科技计划战略咨询与综合评审特邀委员会、国家科技计划管理部际联席会审议,“重大科学仪器设备开发”重点专项已于2016年度启动,并正式进入实施阶段。

  一、指导原则与主要目标

  本专项紧扣我国科技创新、经济社会发展对科学仪器设备的重大需求,充分考虑我国现有基础和能力,在继承和发展“十二五”国家重大科学仪器设备开发专项成果的基础上,坚持政府引导、企业主导,立足当前、着眼长远,整体推进、重点突破的原则,以关键核心技术和部件的自主研发为突破口,聚焦高端通用科学仪器设备和专业重大科学仪器设备的仪器开发、应用开发、工程化开发和产业化开发,带动科学仪器系统集成创新,有效提升我国科学仪器设备行业整体创新水平与自我装备能力。

  通过本专项的实施,构建“仪器原理验证→关键技术研发→系统集成→应用示范→产业化”的国家科学仪器开发链条,完善产学研用融合、协同创新发展的成果转化与合作模式,激发行业、企业活力和创造力。强化技术创新和产品可靠性、稳定性实验,引入重要用户应用示范、拓展产品应用领域,大幅提升我国科学仪器行业可持续发展能力和核心竞争力。

  本专项按照全链条部署、一体化实施的原则,共设置了关键核心部件、高端通用科学仪器和专业重大科学仪器3类任务,本指南为重大科学仪器设备开发专项2018年度指南,拟支持53个研究方向,经费总概算约为6亿元。

  二、总体要求

  1. 专项定位

  本专项充分利用国家科技计划或其他渠道,已取得的相关检测原理、方法、技术或科研装置,开展系统集成、应用开发和工程化开发,形成具有自主知识产权、“皮实耐用”和功能丰富的重大科学仪器设备产品,并服务科学研究和经济社会发展。项目成果是以市场前景广泛的关键核心部件和重大科学仪器设备产品的开发和产业化应用为目标。

  2. 申报主体

  结合本专项的特点和定位,本指南所设项目均由有条件的企业牵头申报。鼓励企业结合国家需求和自身发展需要,联合科研院所和高等学校的优势力量参与项目研发工作,建立目标任务明确、产权和利益分配明晰的产学研用结合机制。同时,要采取有效措施,切实发挥企业在专项中的技术创新决策、研发投入、项目实施组织和成果转化等方面的主体地位作用。

  3. 支持方式

  本专项每个指南方向可支持1~2个项目。所有立项项目通过技术评审和非技术评审,且实施“后端资助”机制和“限额资助”机制。“后端资助”,即结合科学仪器开发的特点,以及我国科学仪器产业发展现状,强化风险共担机制,在任务书约定的中期节点前主要由承担单位自筹经费实施,资助20%的国拨经费。经中期评估,对达到预期目标、组织管理和经费使用规范的项目,再按计划给予支持。“限额资助”,即根据专项总概算和评审立项情况,分别设定核心关键部件和整机的国拨经费资助额度上限。

  4. 立项要求

  4.1 项目基本要求

  国内外需求迫切,目标仪器设备应用单位明确且具有代表性,相关原理、方法或技术已取得重要突破,能形成具有自主知识产权和市场竞争力的核心部件与科学仪器产品。

  目标核心部件与仪器设备整体设计完整、结构清晰合理,技术路线可行,工程化方案、应用开发方案可操作性强;项目质量管理和产业化策划、企业资质和能力、知识产权和利益分配等非技术内容可行。

  拥有本领域的核心关键人才,且具有相关理论研究、设计、工程工艺、系统集成、应用研究以及产业化研究等相关方面结构合理的人员队伍。

  对核心部件类项目:原则上承担单位主营业务为核心部件生产企业,项目实施后能够获得全部自主知识产权,技术就绪度达到9级,并在相关仪器主要生产企业得到广泛应用,形成一定市场规模,产生直接经济效益。

  对仪器整机类项目:根据科学仪器设备开发和应用的自身规律,每一个项目应包括仪器开发、应用开发、工程化开发和产业化开发等类型工作。除仪器设备开发单位外,产业化单位、应用单位也应从项目设计开始,全程参与项目的组织和实施工作。项目验收时,目标仪器技术就绪度达到8级,可形成一定市场规模,产生直接经济效益。

  承担仪器开发任务的单位,不得同时承担应用开发任务。

  4.2 企业牵头承担项目的基本要求

  在中国大陆境内注册1年以上,具有较强科学仪器设备研发和产业化能力,运行管理规范,具有独立法人资格;

  经高新技术企业认定或达到同等条件;

  项目与企业重点发展方向相符;

  与项目参与单位具有前期合作基础;

  与项目参与单位事先签署具有法律约束力的协议,明确任务分工、专项经费分配、成果和知识产权归属及利益分配机制;

  企业投入的自筹研发经费与国拨经费投入比例不低于1:1。自筹研发经费和国拨经费均应用于项目研发活动,不得用于生产线、厂房等产业化能力建设。

  4.3 项目组织要求

  项目推荐单位要加强本部门、本地区、本行业领域科学仪器设备发展的顶层设计、资源整合和扶持培育。

  项目推荐单位要组织项目牵头单位,会同产、学、研、用等各方面,积极开展项目设计和策划工作。在项目设计时,既要注重技术问题,也要注重工程化和产业化策划、企业资质和能力以及知识产权和利益分配机制等非技术问题。

  项目推荐单位要督促项目承担单位在项目提出时落实法人负责制、落实项目配套条件;督促项目承担单位联合优势力量共同开展项目设计和实施。

  项目推荐单位在组织推荐过程中要充分发挥专家的咨询作用。除考虑技术可行性外,还应重点关注工程化和产业化策划、企业资质和能力以及知识产权和利益分配机制等非技术内容。在此基础上,择优推荐项目。

  三、主要任务

  1. 核心关键部件开发与应用

  共性考核指标:目标产品应通过可靠性测试和第三方异地测试,技术就绪度达到9级;至少应用于2类仪器。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  原则上,每个项目下设课题数不超过4个,项目所含单位总数不超过5个,实施年限不超过3年。

  1.1 微焦X射线源用菲涅耳透镜

  研究目标:开发微焦X射线源用菲涅耳透镜,突破纳米尺度微结构的高深宽比加工技术难题,开展工程化开发、应用示范和产业化推广,形成具有自主知识产权、质量稳定可靠的产品,实现在同步辐射、显微CT、软X射线成像等仪器中的应用。

  考核指标:最外环宽度≤25nm@500eV,环高≥200nm@500eV;最外环宽度≤40nm@9keV,环高≥700nm@9keV;衍射效率≥1%@9keV;X射线聚焦≤60nm。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥5000小时;技术就绪度达到9级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  1.2 S波段高功率微波源

  研究目标:开发S波段高功率微波源,突破高压电子枪、高功率容量输出窗口技术,解决高功率微波源工作稳定性难题,开展工程化开发、应用示范和产业化推广,形成具有自主知识产权、质量稳定可靠的产品,实现在高能对撞机、同步辐射光源、自由电子激光装置、辐射成像装置、辐照加速器等仪器装置中的应用。

  考核指标:频率范围1.55~3.4GHz;带宽2MHz;最大输出功率≥50MW;脉冲宽度2μs;脉冲重复频率≥50Hz;效率≥55%;增益≥50dB。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥5000小时;技术就绪度达到9级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  1.3 太赫兹倍频源

  研究目标:开发太赫兹倍频源,突破太赫兹倍频电路设计与精密制造技术,采用国产倍频芯片,开展工程化开发、应用示范和产业化推广,形成具有自主知识产权、质量稳定可靠的产品,实现在太赫兹信号发生器、太赫兹矢量网络分析仪、太赫兹安全检测仪、太赫兹成像仪等仪器中的应用。

  考核指标:3倍频输出频率范围0.325~0.5THz,最大输出功率≥-10dBm,倍频损耗≤20dB;4倍频输出频率范围0.5~0.75THz,最大输出功率≥-20dBm,倍频损耗≤25dB;4倍频输出频率范围0.75 ~1.1THz,最大输出功率≥-30dBm,倍频损耗≤30dB。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥5000小时;技术就绪度达到9级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  1.4 通用高精度匀场超导磁体

  研究目标:开发通用高精度匀场超导磁体,突破大口径超导强磁体加工和高精度匀场设计等关键技术,开展工程化开发、应用示范和产业化推广,形成具有自主知识产权、质量稳定可靠的产品,实现在量子振荡检测仪、核磁谱仪、磁致冷和强磁场材料处理装置等仪器中的应用。

  考核指标:磁场强度≥18T;孔径≥60mm;磁场相对不均匀度≤10-4@直径10mm内;磁场不稳定度≤10-5/h。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥5000小时;技术就绪度达到9级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  1.5 双曲面线性离子阱

  研究目标:开发双曲面线性离子阱,突破双曲线形电极加工和四电极高精度平行绝缘装配等关键技术,开展工程化开发、应用示范和产业化推广,形成具有自主知识产权、质量稳定可靠的产品,实现在离子阱质谱仪、大型离子反应仪等仪器中的应用。

  考核指标:电极长度≥100mm;双曲面电极表面粗糙度Ra≤0.1μm;双曲面线轮廓度≤0.4μm;离子阱综合几何精度≤5μm;质量范围50~4000amu;相对质量分辨率≤0.5amu。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥5000小时;技术就绪度达到9级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  1.6 宽光谱高灵敏电子倍增CCD成像探测器

  研究目标:开发宽光谱高灵敏电子倍增CCD成像探测器,突破高灵敏光生电荷采集结构制备关键技术,开展工程化开发、应用示范和产业化推广,形成具有自主知识产权、质量稳定可靠的产品,实现在高灵敏度显微镜、微光探测仪、光谱分析仪等仪器中的应用。

  考核指标:波长范围260~1000nm;像元数目≥1024×1024,像元尺寸≤13µm×13µm;倍增增益≥1000;最高信噪比≥45dB;峰值量子效率≥80%;暗电荷≤350e/pixel/s;最高输出帧频≥10fps。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥5000小时;技术就绪度达到9级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  1.7 太赫兹混频探测器

  研究目标:开发太赫兹混频探测器,突破太赫兹混频电路设计与精密制造等关键技术,采用国产混频芯片,开展工程化开发、应用示范和产业化推广,形成具有自主知识产权、质量稳定可靠的产品,实现在太赫兹矢量网络分析仪、太赫兹频谱分析仪、太赫兹安全检测仪、太赫兹成像仪等仪器中的应用。

  考核指标:2次谐波混频频率范围0.325~0.5THz,中频频率范围20~300MHz,变频损耗≤17dB;4次谐波混频频率范围0.5~0.75THz,中频频率范围20~300MHz,变频损耗≤30dB;4次谐波混频频率范围0.75~1.1THz,中频频率范围20~ 300MHz,变频损耗≤35dB。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥5000小时;技术就绪度达到9级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  1.8 InGaAs探测器

  研究目标:开发InGaAs探测器,突破单光子信号探测芯片设计制造关键技术,开展工程化开发、应用示范和产业化推广,形成具有自主知识产权、质量稳定可靠的产品,实现在近红外光谱分析仪、近红外成像仪、光纤光谱分析仪等仪器中的应用。

  考核指标:光谱范围760~1800nm;平均光子探测效率≥20%;暗计数≤3kcps;暗电流≤0.3nA@击穿电压;时间分辨率≤2ns;峰值量子效率≥80%;工作温度范围-40~+65℃;湿度范围5~ 95%RH。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥5000小时;技术就绪度达到9级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  1.9 大面积低剂量闪烁体平板探测器

  研究目标:开发大面积低剂量闪烁体平板探测器,突破高速帧率采集、高填充系数大面积探测、高效率低剂量探测等关键技术,开展工程化开发、应用示范和产业化推广,形成具有自主知识产权、质量稳定可靠的产品,实现在工业检测X射线成像仪、医学X射线成像仪等仪器中的应用。

  考核指标:有效探测面积≥30cm×30cm;像素尺寸≤150µm;最高帧频120fps;最低成像剂量≤5nGy;量子检测效率≥75% @20µGy;极限分辨率≥3.3Lp/mm。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥5000小时;技术就绪度达到9级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  1.10 高分辨耐辐照硅探测器

  研究目标:开发高分辨率耐辐照硅探测器,突破离子注入与表面钝化等关键技术,开展工程化开发、应用示范与产业化推广,形成具有自主知识产权、质量稳定可靠的产品,实现在X射线衍射仪、高能粒子谱仪和X射线成像谱仪等仪器中的应用。

  考核指标:探测面积≥5cm×5cm;位置分辨率≤100μm;漏电流密度≤2nA/cm2@耗尽电压;探测器工作电压≥600V;抗辐照指标≥1×1015nep/cm2。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥5000小时;技术就绪度达到9级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  1.11 高精度高空多参数监测传感器

  研究目标:开发高精度高空温度、湿度、气压和风速监测传感器,突破温度漂移抑制和高空环境适应性等关键技术,开展工程化开发、应用示范和产业化推广,形成具有自主知识产权、质量稳定可靠的产品,实现在探空仪、灾害天气预警系统等仪器中的应用。

  考核指标:温度测量范围-90;波束宽度≤30°;机械品质因数≥30;具有电声与声电相互转换功能。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥5000小时;技术就绪度达到9级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  1.16 微型风速风向传感器

  研究目标:开发高性能微型风速风向传感器,突破闭环控制和温度漂移抑制等关键技术,开展工程化开发、应用示范和产业化推广,形成具有自主知识产权、质量稳定可靠的产品,实现在风电厂风场检测仪、野外便携式气象检测仪、环境检测仪等仪器中的应用。

  考核指标:风速测量范围0m/s;风向测量范围0连接数≥80万个/s;在线TCP连接数≥1600万个/s;攻击检测2000种;具有路由协议、接入协议、交换协议、城域网协议、数据中心协议以及应用层协议仿真测试能力;具备应用层回放、定时及时间同步、网络安全威胁检测、互联网请求评注标准测试等功能。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥5000小时,技术就绪度达到8级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  2.7 大型复杂结构件力学性能检测仪

  研究目标:针对大型曲轴锻件、大型齿轮、大型叶片等核心关键部件制造行业的质量控制需求,突破复杂构件力学性能定量无损检测关键技术,开发具有自主知识产权、质量稳定可靠、核心部件国产化的大型结构件力学性能检测仪,开发相关软件和数据库,实现大型复杂结构件多项力学性能检测与扫查成像。开展工程化开发、应用示范和产业化推广。

  考核指标:检测深度0~10mm;检测横向分辨率0.5mm×0.5mm;屈服强度相对误差±10%;残余应力误差±15MPa;硬度及硬化层深度相对误差±5%;自动化检测参数:最高速度40次/s;重复定位精度0.1mm。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥5000小时,技术就绪度达到8级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  2.8 材料高温高频力学性能原位测试仪

  研究目标:针对航空、航天和核工业等领域材料在高温高频载荷作用下性能测试需求,突破高温高频复杂载荷下材料力学性能测试、微观力学性能表征等关键技术,开发具有自主知识产权、质量稳定可靠、核心部件国产化的材料高温高频力学性能原位测试仪,开发相关软件和数据库,实现高温环境复杂载荷作用下材料拉伸、弯曲、高频疲劳等静态和动态力学性能原位测量。开展工程化开发、应用示范和产业化推广。

  考核指标:静态拉伸载荷0~100kN,分辨率≤2N,准确度±1%;变形测量范围0~100mm,分辨率≤10μm,准确度±2%;静态弯曲载荷0~10kN,分辨率≤1N,准确度±1%;变形测量范围0~50mm,分辨率≤5μm,准确度±2%;高频疲劳交变载荷0~10kN,交变载荷频率≥20kHz;温度加载范围-20~1100℃,温控误差±5℃;力学测试成像放大倍数500~1000倍;应变测量范围100μ?~10?。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥3000小时,技术就绪度达到8级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  2.9 固态量子材料自旋信息测量仪

  研究目标:针对量子计算、量子传感器件所用核心关键材料量子自旋信息测量及表征需求,突破量子探针制备、量子自旋态空间形貌表征、自旋态时空信息解耦等关键技术,开发具有自主知识产权、质量稳定可靠、核心部件国产化的固态量子材料自旋信息测量仪,开发相关软件和数据库,实现室温环境下固态量子材料自旋信息的高精度测量。开展工程化开发、应用示范和产业化推广。

  考核指标:样品尺寸1nm~20μm;自旋保持时间≥100µs;间分辨率≤50ps;自旋空间测量范围0.1nm~2μm;自旋空间横向分辨率≤0.1nm;纵向分辨率≤0.01nm;自旋间力测量范围0.2~5nN;分辨率≤0.2nN。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥3000小时,技术就绪度达到8级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  2.10 低场量子电阻测量仪

  研究目标:针对电阻高准确度校准的需要,突破低场量子电阻测量和计量传递等关键技术,开发具有自主知识产权、质量稳定可靠、核心部件国产化的低场量子电阻测量仪,开发相关软件和数据库,实现低磁场、无需补充液氦低温条件下可移动和不间断运行的高准确度电阻测量。开展工程化开发、应用示范和产业化推广。

  考核指标:测量范围1Ω~10kΩ;低磁场量子电阻不确定度≤1×10-8;高准确度电阻传递装置不确定度≤1×10-8;可移动式基准级低场量子电阻测量系统的整体不确定度≤2×10-8;所需超导磁体磁感应强度≤6T;低温装置温度范围4.2~10K。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥3000小时,技术就绪度达到8级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  2.11 差分高能电子衍射仪

  研究目标:针对薄膜、异质结、超晶格人工结构制备工艺过程中的测试需求,突破宽气压高能衍射电子枪和衍射电子气体散射干扰抑制等关键技术,开发具有自主知识产权、质量稳定可靠、核心部件国产化的差分高能电子衍射仪,开发相关软件和数据库,实现宽气压范围晶体取向和薄膜厚度等原位实时测试。开展工程化开发、应用示范和产业化应用。

  考核指标:能量范围15~35keV;束流50~100μA;束斑直径50~80μm;纹波系数0.05%;束流稳定度系数0.15%/℃;工作气压范围1×10-8Pa~100Pa;一次实验采集图像≥50幅;自动焦距调整响应时间≤5秒;观测强度震荡≥50个周期。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥3000小时,技术就绪度达到8级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  3. 专业重大科学仪器开发及应用示范

  共性考核指标:目标产品应通过可靠性测试和第三方异地测试,技术就绪度不低于8级;至少应用于2个领域或行业。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  原则上,每个项目下设课题数不超过6个,项目所含单位总数不超过8个,实施年限不超过3年。

  3.1 钢材超声在线自动探伤仪

  研究目标:针对钢质板材、管材和棒材制备过程中在线自动检测与探伤需求,突破多通道非接触式超声在线自动检测及高本底噪声下信号有效获取等关键技术,开发具有自主知识产权、质量稳定可靠、核心部件国产化的钢材超声在线自动探伤仪,开发相关软件和数据库,实现钢材缺陷的自动检测与报警。开展工程化开发、应用示范和产业化推广。

  考核指标:钢板检测厚度6~100mm;钢板检测宽度1~5m;钢板检测精度?3mm平底孔和0.5mm×10mm纵向裂纹;钢板检测线速度≥60m/min;钢板检测误报率≤2%;钢板检测漏报率≤1%;管材直径≥?350mm最大壁厚≥80mm时检测精度20mm×1mm×5%壁厚的内外刻槽;管材检测线速度≥50m/min;棒材检测精度?2.0mm平底孔@距表面225mm以内,棒材检测线速度≥30m/min。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥3000小时,技术就绪度达到8级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  3.2 水下综合无损检测仪

  研究目标:针对核电、海洋资源开采、船舶等水环境下关键部件的无损检测需求,突破水下零重力综合无损检测及缺陷定量评估等关键技术,开发具有自主知识产权、质量稳定可靠、核心部件国产化的水下综合无损检测仪,实现水环境下关键部件损伤的超声、射线和涡流综合检测。开展工程化开发、应用示范和产业化推广。

  考核指标:超声检测为通道数≥32,工作频率范围0.2~25MHz,检测厚度≥65mm,灵敏度≤10mm×0.2mm×3mm裂纹;射线检测为检测厚度≥65mm,灵敏度≤?1.25mm×20mm体积性缺陷;涡流检测为通道数≥640,灵敏度≤5mm×0.2mm×1mm裂纹;水下重复定位精度≤2mm。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥3000小时,技术就绪度达到8级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  3.3 太赫兹三维层析成像仪

  研究目标:针对复合材料三维形貌与内部缺陷形貌检测的需求,突破太赫兹高分辨率成像、大景深自适应聚焦、图像信息融合与解译等关键技术,开发具有自主知识产权、质量稳定可靠、核心部件国产化的太赫兹三维层析成像仪,开发相关软件和数据库,实现材料表面形貌以及内部缺陷三维形貌的无损检测。开展工程化开发、应用示范和产业化推广。

  考核指标:中心频率≥0.5THz;调制时间≤10µs@90GHz;成像景深≥50cm;成像时间≤5s@50cm×50cm;穿透深度≥10cm@碳纤维材料;成像分辨率≤0.3mm×0.3mm×1.5mm。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥4000小时,技术就绪度达到8级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  3.4 高精度三维螺纹综合测量仪

  研究目标:针对先进制造领域螺纹几何参数的综合性检测需求,突破内外螺纹三维扫描高精度测头和三维参数高效重构关键技术,开发具有自主知识产权、质量稳定可靠、核心部件国产化的高精度三维螺纹综合测量仪,开发相关软件和数据库,实现螺纹全参数的三维自动扫描检测。开展工程化开发、应用示范和实现产业化。

  考核指标:三维旋转扫描测量范围:外螺纹1~400mm,内螺纹3~400mm,分辨率≤0.01μm,径测量精度±μm,螺距测量精度±μm,牙侧角测量精度±0.03°,空间坐标测量精度±μm;具有表面缺陷自动识别、三维模拟装配功能;数据库覆盖国内外螺纹量规标准和紧固件标准140份以上;溯源校准仪器的计量标准器1套。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥3000小时,技术就绪度达到8级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  3.5 微纳结构动态特性测试仪

  研究目标:针对微纳结构与微机电系统器件动态特性测试的需求,突破高信噪比时空调制和自动调焦等关键技术,开发具有自主知识产权、质量稳定可靠、核心部件国产化的微纳结构动态特性测试仪,开发相关软件和数据库,实现微纳结构与MEMS器件的振动频率、模式模态等特性测量分析以及典型缺陷识别。开展工程化开发、应用示范和产业化推广。

  考核指标:振动频率范围300~24MHz,相对频率分辨率≤0.5%;振幅测试范围1nm~100μm@1kHz,振动位移分辨率≤1nm,速度分辨率≤1;可探测异常体时间常数≤50μs;可探测地质断裂和构造的空间分布和走向、地下水与油气资源含量及赋存状态;软件具备三维电性结构成像、地质断层和构造分布实时成像与显示功能。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥3000小时,技术就绪度达到8级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  3.7 自组网海洋环境多参数测量仪

  研究目标:针对近远海区域海底地形地貌全时域测绘需求,突破测绘航行智能同步控制、自主避障航行、多艇协同管理等关键技术,开发具有自主知识产权、质量稳定可靠、核心部件国产化的自组网多参数海洋环境地形测量仪,开发相关软件和数据库,实现海底地形地貌和海流剖面高精度动态检测。开展工程化开发、应用示范和产业化推广。

  考核指标:海底地形测量,工作频率≥170Hz时,斜距量程≥500m,斜距量程分辨率≤2cm;海流剖面测量,工作频率≥600kHz,量程≥70m,水流速度测量准确度≤水流速度0.3%±0.3cm/s,流速测量分辨率≤0.1cm/s;实现超视距无人自主航行测量功能,远程作业和控制距离≥30km;具备测绘和导航同步控制、测绘数据实时自动三维拼接、自组网等功能。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥5000小时,技术就绪度达到8级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  3.8 深地地质结构成像探测仪

  研究目标:针对深部矿产和油气资源探查、重大地质灾害监测等需求,突破勘探深度有限、检测灵敏度低、背景干扰复杂、异常信号识别和提取难等关键问题,开发具有自主知识产权、质量稳定可靠、核心部件国产化的深地地质结构成像探测仪,开发相关数据处理与反演解释软件,实现地下深部资源探测与地质灾害监测。开展工程化开发、应用示范和产业化推广。

  考核指标:最大探地深度≥3000m;地面横向分辨率≤10m;探测目标X-Y方向尺寸误差≤5m@1km×1km×1km;Z方向尺寸误差≤10m@1km×1km×1km;位置定位误差≤1m;自组织网络数据质量监控,联合定性及定量反演。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥3000小时,技术就绪度达到8级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  3.9 材料高温环境电磁特性测试仪

  研究目标:针对航空和航天设备高温环境条件下材料电磁特性测试评估,以及电子设备材料电磁参数的测试需求,突破宽频宽温测试夹具设计制造与校准标定、超宽带激励信号发生与响应信号分析等关键技术,开发具有自主知识产权、质量稳定可靠、核心部件国产化的材料高温环境电磁特性测试仪,开发相关软件和数据库,实现常温和高温环境电磁材料的复介电常数和复磁导率等参量的高精度测试。开展工程化开发、应用示范和产业化推广。

  考核指标:频率范围,10~110GHz;动态范围,120dB、110dB、90dB;工作温度范围,20~1000℃;相对介电常数测试范围1~100,测试准确度±5%;相对磁导率测试范围0.6~10,测试准确度±5%;测量方法,同轴传输线法、波导传输线法、谐振腔法、自由空间法、探头法等;可测材料形态,块状、薄膜、粉末、液体等。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥3000小时,技术就绪度达到8级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  3.10 空间电离层环境层析成像测量仪

  研究目标:针对空间天气监测预警、地震前兆预警、空间科学研究对空间电离层大范围、不间断、高精度测量需求,突破空间电离层反射、折射和闪烁效应检测、电离层参数实时监测与成像反演等关键技术,开发具有自主知识产权、质量稳定可靠、核心部件国产化的空间电离层环境层析成像测量仪,开发相关软件和数据库,实现对电离层总电子含量和电子密度、电离层闪烁等参数的精确测量。开展工程化开发,应用示范和产业化推广。

  考核指标:绝对总电子含量的测量范围0~300TECU,测量精度≤3TECU;相对总电子含量的测量范围0~300TECU,测量精度≤0.03TECU;电子密度的测量范围106个电子/m3~1013个电子/m3,相对测量误差≤15%;闪烁指数的测量范围0~1.5,测量误差≤0.1;测量高度范围60km~1000km;具备电离层不均匀体参数反演功能。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥3000小时,技术就绪度达到8级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  3.11 气液两相流参数测量仪

  研究目标:针对能源、化工等领域对气液两相流的分析测量需求,突破探测器设计制备、高压防水密封、多相流层析成像等关键技术,开发具有自主知识产权、质量稳定可靠、核心部件国产化的气液两相流参数测量仪,开发相关软件和数据库,实现多相混合物的体积流量、质量流量的连续实时检测。开展工程化开发、应用示范和产业化推广。

  考核指标:含气率测量范围0~100%;气相测量最大流量≥1万m3/h;气相质量测量精度≤±2%FS;液相最大流量≥200m3/h,液相质量测量精度≤5%FS;最大耐压≥100MPa;空间分辨率≤2mm。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥10000小时,技术就绪度达到8级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  3.12 高精度光热电位分析仪

  研究目标:针对食品、药品、石化、材料、能源、环保等行业化学成分分析需求,突破光度法、热分析法与电位法综合分析和高精度高通量滴定等关键技术,开发具有自主知识产权、质量稳定可靠、核心部件国产化的高精度光热电位分析仪,开发相关软件和数据库,实现对物质中离子或基团的含量检测。开展工程化开发、应用示范和产业化推广。

  考核指标:光度分析,其光谱范围≥400~700nm,波长准确度≤±1nm,吸光度精度≤0.001Abs;热分析,其温度范围-10~60℃,分辨率≤10-4℃,准确度≤10-3℃,响应速度≤0.3s;电位分析,其测量范围±2400mV,稳定性±0.03mV,分辨率≤0.01mV;滴定通道数≥4,馈液精度≤1/80000滴定管体积。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥5000小时,技术就绪度达到8级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  3.13 有机物主元素分析仪

  研究目标:针对食品、农业、石油化工、地矿等行业对有机化合物中碳、氢、氮、硫、氧元素分析的需求,突破有机物快速分解、高精度检测等关键技术,开发具有自主知识产权、质量稳定可靠、核心部件国产化的有机物主元素分析仪,开发相关软件和数据库,实现对有机物的碳、氢、氮、硫、氧元素高精度定量分析。开展工程化开发、应用示范和产业化推广。

  考核指标:C、H、N、S元素检测限≤30ppm;C、H、N、S元素测量重复性≤0.4%;O元素检测限≤2ppm;元素测量重复性≤0.2%;系统进样量0.05mg~1g;具有全自动进样功能。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥5000小时,技术就绪度达到8级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  3.14 海洋物性参数监测仪

  研究目标:针对深海探测与海洋气候多物理参数检测需求,突破海洋多参数测量、补偿解算、多参量数据融合等关键技术,开发具有自主知识产权、质量稳定可靠、核心部件国产化的海洋物性参数监测仪,开发相关软件和数据库,实现温度、压力、湿度、风场、雨量和太阳辐射等参量的高精度检测。开展工程化开发、应用示范和产业化推广。

  考核指标:深海测量,其深度测量范围0~1000m,精度≤±2% FS,电导率测量范围0.2~65 mS/cm,精度≤±0.05 mS/cm;水温测量精度≤±0.05℃,流速分辨力≤1.5cm/s;气候监测,其气压测量误差≤±0.2%FS,湿度测量范围0~100%RH,精度≤±2%,风速测量范围0~70m/s,精度≤0.5m/s,风向测量范围0~360°,精度≤±3°,雨量测量范围0~15 mm/min,精度≤0.5mm/min,太阳辐射测量范围0~2500W/m2,精度≤1.5%FS,气温测量精度≤0.1℃。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥3000小时,技术就绪度达到8级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  3.15 大型设施挠度非接触测量仪

  研究目标:针对桥梁、高塔、隧道、起重机械等大型设施健康监测、安全性评估及寿命预测的需求,突破三维图像获取、低质量图像高分辨分析、快速自标定等关键技术,开发具有自主知识产权、质量稳定可靠、核心部件国产化的大型设施挠度非接触测量仪,开发相关软件和数据库,实现多点动静态三维挠度实时非接触测量及安全性评估分析。开展工程化开发、应用示范和产业化推广。

  考核指标:测量区域范围0.1~500m;挠度测量分辨率FOV;工作距离1~500m;挠度测量精度≤±0.02mm ,≤±1mm ,≤±10mm ;挠度测量采样频率≥300Hz;具备自动标定、实时输出、超限预警和安全评估等功能。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥3000小时,技术就绪度达到8级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  3.16 宽频带高性能电磁信息安全测试仪

  研究目标:针对电磁空间安全测试、重大活动和核心要害部位电磁信息安全测评、电子信息设备电磁泄漏信号测试等领域的测试需求,突破电磁泄露信息高灵敏探测、异常信号跟踪监测与特征提取、信息还原与安全评估等关键技术,开发具有自主知识产权、质量稳定可靠、核心部件国产化的宽频带高性能电磁信息安全测试仪,开发相关软件和数据库,实现电磁信息安全评估、电磁信息泄漏检测和窃听装置探测。开展工程化开发、应用示范和产业化推广。

  考核指标:频率范围9kHz~67GHz;分析带宽≥500MHz;测试灵敏度≤-165dBm;扫描速度≥10GHz/s;相位噪声≤-127dBc/Hz@;镜频抑制≥70dB;具备全景、频率、存储扫描等测试模式。产品完成时应通过可靠性测试,平均故障间隔时间≥5000小时,技术就绪度达到8级。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量;形成批量生产能力,明确项目验收时销售数量和销售额。

  科技部关于发布国家重点研发计划重大科学仪器设备开发重点专项2018年度项目申报指南的通知

  国科发资〔2018〕40号

  各省、自治区、直辖市及计划单列市科技厅,新疆生产建设兵团科技局,国务院各有关部门科技主管司局,各有关单位:

  根据国务院印发的《关于深化中央财政科技计划管理改革的方案》的总体部署,按照国家重点研发计划组织管理的相关要求,现将“重大科学仪器设备开发”重点专项2018年度项目申报指南予以发布。请根据指南要求组织项目申报工作。有关事项通知如下。

  一、项目组织申报要求及评审流程

  1. 申报单位根据指南支持方向的研究内容以项目形式组织申报,项目可下设课题。项目应整体申报,须覆盖相应指南方向的全部考核指标。项目申报单位推荐1名科研人员作为项目负责人,每个课题设1名负责人,项目负责人可担任其中1个课题的负责人。

  2. 项目的组织实施应整合集成全国相关领域的优势创新团队,聚焦研发问题,强化基础研究、共性关键技术研发和典型应用示范各项任务间的统筹衔接,集中力量,联合攻关。

  3. 国家重点研发计划项目申报评审采取填写预申报书、正式申报书两步进行,具体工作流程如下。

  ——项目申报单位根据指南相关申报要求,通过国家科技管理信息系统填写并提交3000字左右的项目预申报书,详细说明申报项目的目标和指标,简要说明创新思路、技术路线和研究基础。项目申报单位应与所有参与单位签署联合申报协议,并明确协议签署时间;项目申报单位和项目负责人须签署诚信承诺书。从指南发布日到预申报书受理截止日不少于50天。

  ——各推荐单位加强对所推荐的项目申报材料审核把关,按时将推荐项目通过国家科技管理信息系统统一报送。

  ——专业机构在受理项目预申报后,组织形式审查,并根据申报情况开展首轮评审工作。首轮评审不需要项目负责人进行答辩。根据专家的评审结果,遴选出3~4倍于拟立项数量的申报项目,进入答辩评审。对于未进入答辩评审的申报项目,及时将评审结果反馈项目申报单位和负责人。

  ——申报单位在接到专业机构关于进入答辩评审的通知后,通过国家科技管理信息系统填写并提交项目正式申报书。正式申报书受理时间为30天。

  ——专业机构对进入答辩评审的项目申报书进行形式审查,并组织答辩评审。申报项目的负责人通过网络视频进行报告答辩。根据专家评议情况择优立项。对于支持1~2项的指南方向,如答辩评审结果前两位的申报项目评价相近,且技术路线明显不同,可同时立项支持,并建立动态调整机制,结合过程管理开展中期评估,根据评估结果确定后续支持方式。

  二、组织申报的推荐单位

  1. 国务院有关部门科技主管司局;

  2. 各省、自治区、直辖市、计划单列市及新疆生产建设兵团科技主管部门;

  3. 原工业部门转制成立的行业协会;

  4. 纳入科技部试点范围并评估结果为A类的产业技术创新战略联盟,以及纳入科技部、财政部开展的科技服务业创新发展行业试点联盟。

  各推荐单位应在本单位职能和业务范围内推荐,并对所推荐项目的真实性等负责。国务院有关部门推荐与其有业务指导关系的单位,行业协会和产业技术创新战略联盟、科技服务业创新发展行业试点联盟推荐其会员单位,省级科技主管部门推荐其行政区划内的单位。推荐单位名单在国家科技管理信息系统公共服务平台上公开发布。

  三、申请资格要求

  1. 牵头申报单位和参与单位应为中国大陆境内注册的企业、科研院所、高等学校等,具有独立法人资格,注册时间为2017年1月31日前,有较强的科技研发能力和条件,运行管理规范。政府机关不得牵头或参与申报。申报单位同一个项目只能通过单个推荐单位申报,不得多头申报和重复申报。

  2. 项目负责人须具有高级职称或博士学位,1958年1月1日以后出生,每年用于项目的工作时间不得少于6个月。

  3. 项目负责人原则上应为该项目主体研究思路的提出者和实际主持研究的科技人员。中央和地方各级政府的公务人员不得申报项目。

  4. 项目负责人限申报1个项目;国家重点基础研究发展计划、国家高技术研究发展计划、国家科技支撑计划、国家国际科技合作专项、国家重大科学仪器设备开发专项、公益性行业科研专项以及国家科技重大专项、国家重点研发计划重点专项在研项目负责人不得牵头申报项目。国家重点研发计划重点专项的在研项目负责人也不得参与申报项目。

  项目骨干的申报项目和改革前计划、国家科技重大专项、国家重点研发计划在研项目总数不得超过2个;改革前计划、国家科技重大专项、国家重点研发计划的在研项目负责人不得因申报国家重点研发计划重点专项项目而退出目前承担的项目。

  计划任务书执行期到2018年6月30日之前的在研项目不在限项范围内。

  5. 特邀咨评委委员不能申报项目;参与重点专项实施方案或本年度项目指南编制的专家,不能申报该重点专项项目。

  6. 受聘于内地单位的外籍科学家及港、澳、台地区科学家可作为重点专项的项目负责人,全职受聘人员须由内地聘用单位提供全职聘用的有效证明,非全职受聘人员须由内地聘用单位和境外单位同时提供聘用的有效证明,并随纸质项目预申报书一并报送。

  7. 申报项目受理后,原则上不能更改申报单位和负责人。

  8. 项目的具体申报要求,详见各重点专项的申报指南。

  各申报单位在正式提交项目申报书前可利用国家科技管理信息系统公共服务平台查询相关科研人员承担改革前计划和国家科技重大专项、国家重点研发计划重点专项在研项目情况,避免重复申报。

  四、具体申报方式

  1. 网上填报。请各申报单位按要求通过国家科技管理信息系统公共服务平台进行网上填报。项目管理专业机构将以网上填报的申报书作为后续形式审查、项目评审的依据。预申报书格式在国家科技管理信息系统公共服务平台相关专栏下载。

  项目申报单位网上填报预申报书的受理时间为:2018年2月22日8:00至2018年4月16日17:00。进入答辩评审环节的申报项目,由申报单位按要求填报正式申报书,并通过国家科技管理信息系统提交,具体时间和有关要求另行通知。

  国家科技管理信息系统公共服务平台:

  http://service.most.gov.cn;

  技术咨询电话:010-88659000;

  技术咨询邮箱:program@most.cn。

  2. 组织推荐。请各推荐单位于2018年4月23日前,将加盖推荐单位公章的推荐函、推荐项目清单寄送科技部信息中心。推荐项目清单须通过系统直接生成打印。

  寄送地址:北京市海淀区复兴路甲15号,北京西三环专家公寓6层,邮编:100036。

  联系电话:010-88654074。

  3. 材料报送和业务咨询。请各申报单位于2018年4月23日前,将加盖申报单位公章的预申报书,寄送至承担项目所属重点专项管理的专业机构。项目预申报书须通过系统直接生成打印。

  咨询电话:010-68104402,68104487。

  寄送地址:北京市三里河路一号9号楼,科学技术部高技术研究发展中心计划与监督处,邮编:100044。

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